Analysegeräte für "Hochauflösende spektroskopische Verfahren" an der Mathematisch-Naturwissenschaftlichen Fakultät

Institut für Biowissenschaften

Mikroskopische Analytik

Laserscanning-Mikroskop mit Festkörperlasern

Laserscanning-Mikroskop mit Festkörperlasern

Standort: AG von Prof. Lehmann, Albert-Einstein-Str. 3

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Gerätebeschreibung:

  • Nikon A1 CLSM, blue solid state laser diode 405 nm, Arg/Kr 458, 476, 488, 514 nm, HeNe 543, laser solid-state 561 nm, laser diode 638 nm, heating chamber and CO2-supply for 3D & 4D live cell imaging, FRAP, Ca2+, with TIRF, additional fast Andor camera, perfect focus system.
  • Leica confocal SP2 system with AOBS, blue solid state laser diode 405 nm, Arg/Kr 458, 476, 488, 514 nm, HeNe 543, 594, 633 nm; objectives: 10x 0.4NA HCX PlanApo, 20x 0.7NA HC Plan-Apo, 40x 1.25NA DIC HCX PL Fluotar, 63x 1.4NA DIC Oil HCX Plan-Apo; detectors: 3 fluorescence PMT-s (spectral detection option) and 1 transmission PMT; heating chamber and CO2-supply for 3D & 4D live cell imaging, FRET, FRAP, Ca2+.
Multiphotonen Laserscanning-Mikroskop mit IR-Laser

Multiphotonen Laserscanning-Mikroskop mit IR-Laser

Standort: AG von Prof. Lehmann, Albert-Einstein-Str. 3

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Gerätebeschreibung:

  • Leica TCS SP8 Multiphotonenmikroskop, Konfocalscanner, Laser-Blue 488nmm
    Festkörperlaser, IR Laser Maitai eHP DeepSee (690- 1040 nm), Objektivvergrößerungen 5x,
    20x, 40x. 

Röntgenanalyse / Tomographie

Röntgen-Mikroskop Zeiss Versa 410

Röntgen-Mikroskop Zeiss Versa 410

Standort: AG von Prof. Stefan Richter, Universitätsplatz 2, Raum 19B
Nutzungsanfragen an: PD Dr. Christian Wirkner
(christian.wirkner(at)uni-rostock.de)

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Gerätebeschreibung:

Röntgen-Mikroskop Zeiss Versa 410 (Universitätsplatz 2, Raum 19B).

 

Mikro-Computer-Tomograph GE Phoenix X-Ray Nanotom 180S

Mikro-Computer-Tomograph GE Phoenix X-Ray Nanotom 180S

Standort: AG von Prof. Stefan Richter, Albert-Einstein-Straße 3, Raum K50
Nutzungsanfragen an: PD Dr. Christian Wirkner
(christian.wirkner(at)uni-rostock.de)

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Gerätebeschreibung:

Mikro-Computer-Tomograph GE Phoenix X-Ray Nanotom 180S (Albert-Einstein-Straße 3, Raum K50).

Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop Leica STELLARIS 8

Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop Leica STELLARIS 8

Standort: AG von Prof. Stefan Richter
Nutzungsanfragen an: PD Dr. Christian Wirkner
(christian.wirkner(at)uni-.rostock.de)

Institut für Chemie

Massenspektroskopie für die Umweltanalytik

Massenspektroskopie für die Umweltanalytik

Massenspektroskopie für die Umweltanalytik

Standort: AG von Prof. Zimmermann, Chemie, Dr. Lorenz-Weg 2

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Gerätebeschreibung:

  • FTICR (Christopher Rüger)
  • fs/ Partikel MS (Johannes Passig)
  • Gasmassung über PIMS (Thorsten Streibel)
Massenspektroskopie für die Umwelt- und Spurenanalytik

Massenspektroskopie für die Umwelt- und Spurenanalytik

Standort: AG von Prof. Zimmermann, Chemie, Dr. Lorenz-Weg 2 & AG von Prof. Kragl, Chemie, Albert-Einstein-Straße 3a

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Gerätebeschreibung:

Verschiedene Massenspektrometer und Kopplungstechniken zum Nachweis von Spurenstoffen

a) FTICR (Christopher Rüger)

b) fs/ Partikel MS (Johannes Passig)

c) Gasmessung über PIMS (Thorsten Streibel)

d) LC/MS zur Inhaltsbestimmung in Pflanzenextrakten und biologischen Proben (Dr. Christina Oppermann)

Kernresonanztechniken für Flüssigkeiten und Feststoffe

Kernresonanztechniken für Flüssigkeiten und Feststoffe

Kernresonanztechniken für Flüssigkeiten und Feststoffe

Ansprechpartner:
Institut für Chemie, Prof. Björn Corzilius und Prof. Ralf Ludwig
Fakultät für Maschinenbau und Schiffstechnik: Prof. Sven Grundmann

Standort:

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Gerätebeschreibung:

a) ein Festkörper-NMR

b) Standard-NMR-Geräte für chemische Analysen

c) Perspektivisch: Eine Dynamische Kern-Polarisation als Erweiterung für das Festkörper-NMR

d) MRT für Fluidtechnik (AG Grundmann)


Institut für Physik

Charakterisierung und Strukturierung von Oberflächen auf der Nanometerskala

Charakterisierung und Strukturierung von Oberflächen

Charakterisierung und Strukturierung von Oberflächen

Ansprechpartner:
Institut für Physik:
Prof. Sylvia Speller, AG Oberflächen- und Grenzflächenphysik
Prof. Tobias Korn, AG Zweidimensionale Kristalle und Heterostrukturen

Standort:

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Gerätebeschreibung:

- Rasterkraftmikroskopie

- konfokale Mikroskopie

- Nanolithographie

Fluoreszenz- und Photolumineszenzcharakterisierung von Materialien und Substanzen

Fluoreszenz- und Photolumineszenzcharakterisierung

Fluoreszenz- und Photolumineszenzcharakterisierung

Ansprechpartner:
Institut für Physik:
Prof. Christian Klinke, AG Nanostructures and nanomaterials
Prof. Stefan Lochbrunner, AG Dynamik molekularer Systeme

Standort:

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Gerätebeschreibung:

- Emissionsspektren

- Quantenausbeuten

- Lumineszenzlebensdauern

Fakultätsübergreifend

Laser-basierte Spektroskopietechniken für neue Materialien und Medizintechnik

Laser-basierte Spektroskopietechniken

Laser-basierte Spektroskopietechniken

Ansprechpartner:
Institut für Physik:
Prof. Stefan Lochbrunner, AG Dynamik molekularer Systeme

Institut für Chemie:
Prof. Ralf Ludwig, Lehrstuhl für Allgemeine Physikalische und Theoretische Chemie

Universitätsmedizin der Universität Rostock
Prof. Simone Baltrusch, Institut für Medizinische Biochemie und Molekularbiologie

Standort:

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Gerätebeschreibung:

a) FLIM

b) Vakuum-UV-Hochintensitätspulse für Beugungsexperimente

c) Moleküldynamik

Nanoanalytik

Nanoanalytik

Nanoanalytik

Ansprechpartner:
Institut für Physik:
Prof. Sylvia Speller, AG Oberflächen- und Grenzflächenphysik
Prof. Christian Klinke, MNF, Institut für Physik, AG Nanostructures and nanomaterials

Fakultät für Maschinenbau und Schiffstechnik:
Prof. Olaf Keßler, Lehrstuhl für Werkstofftechnik

Universitätsmedizin der Universität Rostock
PD Dr. Marcus Frank, AG Med. Biologie, Elektronenmikroskopisches Zentrum

Standort:

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Gerätebeschreibung:

a) das höchstauflösende analytische Elektronenmikroskop Jeol Neoarm mit STEM Cs Korrektor, heizbarem Halter für Festkörperproben, zusätzlich Halter für die Analyse von Proben in flüssigen und gasförmigen Umgebungen

b) Ein kleineres Transmissions-Elektronenmikroskop für Routine-Untersuchungen

c) Ein Sekundär-Elektronenmikroskop SEM, insbesondere für die Analyse von Oberflächen

d) mehrere Raster-Nanoproben